碳化硅(SiC)芯片行业每日资讯9/5
碳化硅(SiC)芯片行业每日资讯
资讯覆盖时间窗口:2026 年 9 月 5 日 08:00 — 9 月 6 日 08:00(北京时间)注:周末行业新闻发布较少,部分 9 月 4 日发布、仍在持续发酵的重要动态一并纳入。
1. 美国 BIS 发布临时最终规则,扩大商业级 SiC/GaN 功率半导体出口许可范围
美国商务部工业与安全局(BIS)于 7 月 27 日发布临时最终规则,扩大对用于高功率密度和高频开关应用的商业级 SiC 和 GaN 功率半导体产品的出口许可要求。9 月 5 日行业媒体深度解读:涉及跨境出口或再出口至中国的 SiC/GaN 器件将面临更长的许可证审查周期,中国厂商若依赖美国原产设计工具、测试设备或与美方联合研发,可能在产品认证周期上遭遇延迟。这是继 8 月 6 日将 SiC/GaN 模块列入商业管制清单后,美国在功率半导体出口管制领域的又一升级动作。
状态:已查证
来源:SiliconCore Metrics|美国商务部 BIS
2. 博世加州工厂正式启动 SiC 芯片样品生产,获 2.25 亿美元 CHIPS 法案补贴
博世在位于美国加州罗斯维尔、耗资 20 亿美元改造的半导体工厂正式启动碳化硅芯片样品生产,这是全球最大汽车供应商首次在美国本土制造芯片。该项目获得美国联邦 CHIPS 法案 2.25 亿美元补贴,目标是为电动汽车、混合动力车、国防及 AI 数据中心建立本土 SiC 供应链,商业量产计划于年内启动。标志着全球 SiC 产能格局从 "亚欧主导" 向 "美洲落地" 进一步扩展。
状态:已查证
来源:Global Current News(GCN)
3. 博测锐创发布 12.5KV 超高压功率器件测试分析仪,覆盖 SiC/GaN 击穿与静态特性检测
在宜宾世界动力电池大会期间,博测锐创半导体科技(苏州)正式发布 12.5KV 超高压功率器件测试分析仪,覆盖 SiC/GaN 器件的击穿电压与静态特性检测,补齐产线测试短板。公司董事长邱宇峰表示,功率半导体正朝宽禁带和更高电压更大功率两个方向发展,用户迫切需要万伏级器件的动态特性测试分析技术。该设备填补了国产超高压 SiC/GaN 测试装备空白。

