SiC 功率器件・模块 应用笔记

博主7个月前 (11-30)第三代半导体1440


image.png

85页PDF笔记分享(SiC 功率器件・模块  应用笔记;部分截图)

image.pngimage.pngimage.pngimage.png

《SiC功率器件・模块 应用笔记》知识大纲总结

一、SiC半导体基础

  1. SiC材料特性

    • 绝缘击穿场强是Si的10倍,带隙是Si的3倍

    • 适合制作高压、高效率功率器件

    • 4H-SiC是功率器件的主流多型体

  2. SiC功率器件优势

    • "高耐压"、"低导通电阻"、"高频"三大特性兼备

    • 与Si器件相比,单位面积导通电阻可降低至1/300

    • 无需使用IGBT等双极型器件即可实现高压、低损耗

二、SiC SBD(肖特基势垒二极管)特性

  1. 器件结构与优势

    • 多数载流子器件,无少数载流子积聚现象

    • 反向恢复损耗大幅减小,可达Si FRD的1/10以下

  2. 关键特性

    • 正向电压(VF)与Si FRD相当,约1V

    • 温度升高时VF增大,不易发生热失控

    • 反向恢复电流几乎不受温度和正向电流影响

  3. 使用注意事项

    • 串联使用不推荐(电压均衡困难)

    • 并联使用无需均衡电路,但需使用相同批次产品

三、SiC MOSFET特性

  1. 器件结构与优势

    • 无需电导率调制即可实现高压、低导通电阻

    • 无IGBT的拖尾电流,关断损耗大幅减小(约90%)

  2. 关键参数特性

    • 标准化导通电阻(RonA)远低于Si MOSFET

    • 推荐栅极驱动电压18V(非传统10-15V)

    • 导通电阻温度系数较低(650V产品更小)

    • 体二极管具有超快速反向恢复特性(与SBD相当)

  3. 开关特性

    • 开关损耗温度依存性小(25-175℃范围内稳定)

    • 开关速度受外接栅极电阻影响显著

    • 漏极电流增大时,开通速度变慢,关断速度变快

  4. 第三代沟槽栅极结构

    • 通过沟槽结构降低沟道电阻

    • 关断时栅极氧化膜电场强度降低35%

    • RonA比第二代产品减小约50%

四、SiC器件应用关键技术

  1. 栅极驱动设计

    • 推荐驱动电压:18V左右

    • 推荐外接栅极电阻:几Ω(小阻值)

    • 推荐死区时间:根据应用条件确定

    • 需考虑误导通对策和负浪涌对策

  2. 封装技术

    • 开尔文源极封装(TO-247-4L):解决源极电感影响

    • 有效改善开关损耗,尤其在大电流条件下

  3. PCB Layout设计

    • 驱动回路与主电路返回布线应分离

    • 减少源极电感影响,提高开关性能

五、SiC功率模块

  1. 模块特征

    • 集成SiC SBD和MOSFET

    • 具有NTC热敏电阻,用于温度监控

    • 与IGBT模块相比,开关损耗大幅降低

  2. 模块优势

    • 与IGBT模块相比,总开关损耗可降低约90%

    • 反向恢复损耗(Err)、开通损耗(Eon)、关断损耗(Eoff)均显著降低

  3. 应用注意事项

    • 误导通对策

    • RBSOA(反向偏置安全工作区)特性

    • 二极管在小电流、窄脉宽通电时的VDS浪涌问题

>> 点击阅读全文
《SiC 功率器件・模块 应用笔记》.docx
将本文下载保存,方便收藏和打印
导出文档

发表评论

访客

看不清,换一张

◎欢迎参与讨论,请在这里发表您的看法和观点。