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纳米集成电路制造工艺(第2版)张汝京
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图解芯片技术
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芯路 一书读懂集成电路产业的现在与未来
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半导体制造工艺基础
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总结一下近10年混饭于半导体电路行业的些许感受(转)

继续每天写一点,由于时差关系,我每天只能在这个时间上来随便写点。 先从我10年前大学一起毕业的同学现今的状况说起吧,这也许会是刚入行电子行业的年轻毕业生比较好奇的事情,而且也能从中看到自己多年以后大概的样子。

晶圆代工争霸战 第一篇

现代科技不断革新,网路平台与云端运算背后,仰赖著上千台电脑伺服器相互连结;智慧型手机除了能登录网页与多样化的应用程式,未来更能支援扩增实境 (AR)、3D影像、支付等功能;除此之外还有感测元件、智慧家庭、穿戴式装置、自动车…。

你应该知道的半导体芯片知识科普

尺寸缩小有其物理限制:不过,制程并不能无限制的缩小,当我们将晶体管缩小到 20 奈米左右时,就会遇到量子物理中的问题,让晶体管有漏电的现象,抵销缩小 L 时获得的效益。作为改善方式,就是导入 FinFET(Tri-Gate)这个概念,如右上图。在 Intel 以前所做的解释中,可以知道藉由导入这个技术,能减少因物理现象所导致的漏电现象。

什么是MOS管?MOS管结构原理图解(应用_优势_三个极代表)

mos管是金属(metal)—氧化物(oxide)—半导体(semiconductor)场效应晶体管,或者称是金属—绝缘体(insulator)—半导体。MOS管的source和drain是可以对调的,他们都是在P型backgate中形成的N型区。在多数情况下,这个两个区是一样的,即使两端对调也不会影响器件的性能。这样的器件被认为是对称的。

MOSFET最基础的东西,看完秒懂

什么是MOSFET MOSFET的原意是:MOS(Metal Oxide Semiconductor金属氧化物半导体),FET(Field Effect Transistor场效应晶体管),即以金属层(M)的栅极隔着氧化层(O)利用电场的效应来控制半导体(S)的场效应晶体管。

从沙子到芯片(转)

所有的故事要从Willian shockly 开始,在1948年,William shockly 和 John Bardeen 和Walter Brattain 在贝尔实验室发明了晶体管(晶体管的英文是transistor)晶体管是芯片的基本组成器件。他们三位也是1956年的诺贝尔物理奖的得主。图片中坐着的那位就是William Shockly .早期的晶体管就是图片所示。距离今天的高集成度芯片还有一定的距离。

转:​碳化硅器件制作关键技术与工艺集成

碳化硅(Silicon Carbide, 简称SiC)作为一种宽禁带半导体材料,不但击穿电场强度高、热稳定性好、还具有载流子饱和漂移速度高、热导率高等特点,在高温、高频、大功率器件和集成电路制造领域有着广阔的应用前景。本文综述了SiC器件制作过程中关键工艺研究的最新进展,如掺杂、刻蚀、氧化以及欧姆接触,介绍了器件中结终端技术的应用与发展,最后从工艺集成的角度分析了器件制作过程中热学兼容性、力学兼容性以及异质兼容等问题。

你若盛开,清风自来

一花一天堂,一草一世界; 一树一菩提,一笑一开怀; 一方一净土,一世一尘缘; 一念一清净,心如莲花开。

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工作了这么多年,学了很多东西,也看到了很多非常优秀的文章。 一直想给大家分享,或者说给自己留一点知识(记性越来越不好了),以供后续查询。

半导体厂商如何做芯片的出厂测试?

我觉得这个问题就是为我量身定制的!作为前Teradyne ATE工程师,现AMD DFT+数字IC设计工程师,以亲身项目经验,来谈谈这个问题。先来说一下完整的测试流程,再针对题主的两个问题回答一下。一、芯片测试概述芯片测试分两个阶段,一个是CP(Chip Probing)测试,也就是晶圆(Wafer)测试。另外一个是FT(Final Test)测试,也就是把芯片封装好再进行的测试。CP测试的目的就