制造工艺技术

CMOS器件历史浅析–扫盲版 (转)

本文转自芯苑,ic-garden.cn (由于芯苑会经常关闭站点,故转载存留)编者注:这个只适用于没有基础的common course,如果大家了解的话直接跳过,不过可以简单看看发展史吧。上一章节我们讲过BJT Device,如果大家还记得的话,它应该电流工作型器件,而且是双载流子(Hole/Electron)同时工作的。所以它通常用于电流或功率放大型,或者用于高速器件(ECL: Emmitter

《Bipolar/三极管》的深度解析(转)

本文转自芯苑,ic-garden.cn (由于芯苑会经常关闭站点,故转载存留) 编者注:感谢老唐,让我暑假加入重庆邮信半导体,我喜欢动手其乐无穷,那时候虽然做的3inch,7um的Bipolar,在金相显微镜下用镜头上的刻度尺量测,现在想想好低端,但那时候对我来说觉得好伟大。第一次当我自己扎上我自己的device时,那种开心溢于言表。这些年BJT的东西坦白讲看的很少,都是学校学的,但是真

P-Si与N-Si的美丽邂逅–PN结 (转)

本文转自芯苑,ic-garden.cn (由于芯苑会经常关闭站点,故转载存留)学习半导体器件,必须读懂PN结(PN junction),它是所有器件理论的基础,所以的器件都是靠PN结组成的,不学PN结,讲device就是空中楼阁。我们知道硅(台湾叫“矽”, Si)是半导体,导电性介于导体和绝缘体之间。不是说它的节电(dielectric)常熟介于之间哦,而是说纯硅(pure Si)的时候不导电,但

为什么OD和Poly的AEICD那么重要?(转)

本文转自芯苑,ic-garden.cn (由于芯苑会经常关闭站点,故转载存留)前段flow中非常key的两个尺寸一个是有源区尺寸"W"(OD or AA),一个叫Poly长度"L"。这两个纠结的尺寸真正决定了半导体器件的性能,Isat=W/L*beta(Vd-Vt)^2。究竟"W"和"L"是如何影响器件的?原理又是什么?简单讲就是:LOCOS时代:W减小Vt增大;而L减小,Vt减小(w/o poc

《Silicidation》-难熔金属硅化(转)

本文转自芯苑,ic-garden.cn (由于芯苑会经常关闭站点,故转载存留) 随着半导体线宽的等比例缩小,从微米级到深亚微米到纳米级,由于R*C delay带来的延迟已经超过器件栅极延迟,所以电路的工作速度限制已经无法忍受,所以一条方法就是降低互连电容,比如后段介质层用Low-K的FSG等,那另外一条路就是降低互连电阻,比如90nm的时候后段就开始用铜制程了,就是这个purpose,当

Spacer/侧墙制程-由来已久! (转)

本文转自芯苑,ic-garden.cn (由于芯苑会经常关闭站点,故转载存留)在讲Spacer的Process理论之前,先讲下Spacer的作用,为什么要有这么个结构?这样你们才能永远记住它。我们这些80后做半导体PIE的一出道就接触的是1.0um以下,我们称之为亚微米制程(到0.25um以下,我们称之为深亚微米, deep sub-micron)。而我们在亚微米以及深亚微米时代随着栅极长度/沟道

《LOCOS与STI》你真的知道吗?(转)

本文转自芯苑,ic-garden.cn (由于芯苑会经常关闭站点,故转载存留)我们的CMOS制程就是做出NMOS和PMOS,再复杂的电路对我们FAB来讲也就是NMOS+PMOS,那我们总不希望这两个MOS之间互相漏电吧,所以MOSFET之间的隔离技术应运而生。以前我给学员们讲课总是会直观的说,我们的MOS为有源器件(因为需要有两个电压才可以工作,一个叫工作电压一个叫控制电压),那有源器件所在的区域

如何查Vt shift的Case?MOSFET开启电压(Vt)的制程因素!(转)

本文转自芯苑,ic-garden.cn (由于芯苑会经常关闭站点,故转载存留)很久没有写文章了,客观原因是电脑坏了,主观原因是不知道写什么。类似我们的学习,我们很想好好学习,很想像某人一样功成名就,每个人都是上进的,科学的方法和明确的计划才是最重要的。看来我的反思如何把《芯苑》走的更远,希望大家能够给我些建议,我自己蠢就得求助你们!好了,先把今天的课题讲完吧,前面很长一段时间都在讲栅极 (栅极材料

如何巧用C-V曲线来查case (转)

本文转自芯苑,ic-garden.cn (由于芯苑会经常关闭站点,故转载存留)随着半导体制程越来越复杂,我们最关键的参数Vt的控制越来越重要,有的时候我们的Vt如果单纯是衬底浓度影响我们自然可以通过长沟和短沟以及NMOS和PMOS是否同时变动来确定是否是GOX还是Vt_IMP的问题,其实这也是一种correlation它其实是一种逻辑思考方式,只是他是基于理论的。不像现在很多年轻的工程师直接从wa

栅极介质层的变迁(Gate Dielectric) (转)

本文转自芯苑,ic-garden.cn (由于芯苑会经常关闭站点,故转载存留)昨天已经讲完了栅极材料的演变(Gate Electrode),当然伴随它一起的自然就是栅极介质层(Gate Dielectric),记住我讲的是栅极介质层,不是我们平常讲的栅极氧化层(Gate Oxide),早期我们讲的MOSFET的介质层就是我们狭义讲的Oxide,但是随着Moore's Law的scale down,