芯片制造工艺

芯片制造工艺问答007:何谓LOCOS? Typical process flow?

LOCOS 为Local Oxidation 的简称在先进的集成电路制程中,可以在面积的硅表面上挤进多达数十万的MOS晶体管,为了使晶体管与晶体管间的操作不受到对方的干扰,必需将每个集成电路上的晶体管,与其它的晶体管相隔离,避免产生短路。在0.25 um制程之前,LOCOS是被普遍使用的绝缘隔离制程,因为它非常简单。以下为0.30 UM TPDM SRAM Technology LOCOS pro

芯片制造工艺问答010:何谓ODR? 对产品有何影响?

Ans 如第8题的附图,在STI-HDP OXIDE Deposition后,Trench密集区的OXIDE多填入Trench内,而空旷区的OXIDE多在SIN之上,如此在后续的CMP制程将会引致不同的Polishing rate。因此用一个OD Reverse Tone(简单来看就是一个和OD Pattern相反的光罩)将空旷区的OXIDE曝开再由OXIDE ETCH将在SIN上的OXIDE吃掉

芯片制造工艺问答027:Gate oxide对产品影响的参数有哪些?

MOSFET(以下简称MOS管)是集成电路芯片的基本组成单元之一,由金属(M)-氧化物(O)-半导体(S)组成。如今Gate材料多用多晶硅(Poly-Si)材料了,为了进一步降低中间氧化层的厚度也用上了HfO2等High-K材料,不过大家还是习惯称其为MOS管。一个典型的MOS管有三个端子,即栅极(Gate)、源极(Source)和漏极(Drain)。MOSFET的操作原理并不复杂,简单来说就是一

芯片制造工艺问答029:Gate oxide 成长有哪些重要考虑?

Ans 降低成长速率以利厚度均匀度控制 --> 采用dry oxide, or low flow rate/temperature wetoxide. 温度随产品技术演进而降低使用Cl-离子growth, etch方式, 减少金属污染. --> 采用合乎环保的Trans-LC作为Cl离子来源低温出炉, 以降低Si/SiO2的oxide fixed charge density.